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【24h】

Accelerated reliability testing for telecommunication systems using the highly accelerated life test (HALT) and highly accelerated stress screening (HAAS)

機譯：使用高度加速壽命測試（HALT）和高度加速應(yīng)力篩選（HAAS）的電信系統(tǒng)加速可靠性測試

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來源
《》|2000年|P.49-53|共5頁
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作者
Berger; H.;
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正文語種
中圖分類無線電電子學(xué)、電信技術(shù);
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1. Acceleration of degradation by highly accelerated stress test and air-included highly accelerated stress test in crystalline silicon photovoltaic modules [J] . Suzuki Soh, Tanahashi Tadanori, Doi Takuya, Japanese journal of applied physics . 2016,第2期

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3. Highly Accelerated Life Test (HALT) Program at Space Systems Loral [J] . Brian Kosinski, Dennis Cronin Journal of the IEST . 2013,第2期

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4. Accelerated reliability testing for telecommunication systems using the highly accelerated life test (HALT) and highly accelerated stress screening (HAAS) [C] . Berger H., Institute of Electric and Electronic Engineer International Conference on Telecommunications Energy Special . 2000

機譯：使用高度加速壽命測試（HALT）和高度加速應(yīng)力篩選（HAAS）的電信系統(tǒng)加速可靠性測試
5. Optimal step-stress plans for accelerated life testing considering reliability/life prediction. [D] . Li, Chenhua. 2009

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6. Reliability of X7R Multilayer Ceramic Capacitors During High Accelerated Life Testing (HALT) [O] . Ana María Hernández-López, Juan Antonio Aguilar-Garib, Sophie Guillemet-Fritsch, 2018

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7. Analysis the Reliability of Multilayer Ceramic Capacitor with inner Ni Electrode under highly Accelerated Life Test Conditions [O] . Jung-Rag Yoon, Kyung-Min Lee, Serk-Won Lee 2009

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