国产bbaaaaa片,成年美女黄网站色视频免费,成年黄大片,а天堂中文最新一区二区三区,成人精品视频一区二区三区尤物

首頁(yè)> 外文期刊>Acta Physica Polonica >High-Resolution X-Ray Diffraction Studies on MBE-Grown p-ZnTe-CdTe Heterojunctions for Solar Cell Applications
【24h】

High-Resolution X-Ray Diffraction Studies on MBE-Grown p-ZnTe-CdTe Heterojunctions for Solar Cell Applications

機(jī)譯：MBE生長(zhǎng)的p-ZnTe / n-CdTe異質(zhì)結(jié)在太陽(yáng)能電池中的高分辨率X射線衍射研究

獲取原文
獲取原文并翻譯 | 示例
  • 摘要
  • 著錄項(xiàng)
  • 相似文獻(xiàn)
  • 相關(guān)主題

摘要

High-resolution X-ray diffractometer was used to study structural quality, lattice parameters and misfit strain in p-ZnTe-CdTe heterojunctions grown by the molecular-beam epitaxy technique on two different (001)-oriented substrates of GaAs and CdTe. The X-ray diffractometer results indicate that the CdTe layers, grown on lattice mismatched GaAs substrate, are partially relaxed, by the formation of misfit dislocations at the interface, and display residual vertical strain of the order of 10(-4). The presence of threading dislocations in the layers effectively limits the efficiency of solar energy conversion in the investigated heterojunctions. Homoepitaxially grown CdTe layers, of much better structural quality, display unexpected compressive strain in the layers and the relaxed lattice parameter larger than that of the substrate. Possible reasons for the formation of that unusual strain are discussed.
機(jī)譯：利用高分辨率X射線衍射儀研究了在兩種不同的（001）取向的GaAs和CdTe襯底上通過(guò)分子束外延技術(shù)生長(zhǎng)的p-ZnTe / n-CdTe異質(zhì)結(jié)的結(jié)構(gòu)質(zhì)量，晶格參數(shù)和失配應(yīng)變。 X射線衍射儀結(jié)果表明，在晶格失配的GaAs襯底上生長(zhǎng)的CdTe層通過(guò)在界面處形成失配位錯(cuò)而部分松弛，并顯示出10（-4）的殘余垂直應(yīng)變。各層中存在螺紋位錯(cuò)有效地限制了所研究的異質(zhì)結(jié)中太陽(yáng)能轉(zhuǎn)化的效率。同質(zhì)外延生長(zhǎng)的CdTe層，具有更好的結(jié)構(gòu)質(zhì)量，在這些層中顯示出意想不到的壓縮應(yīng)變，并且其松弛晶格參數(shù)大于基底。討論了形成這種異常應(yīng)變的可能原因。

著錄項(xiàng)

  • 來(lái)源
    《Acta Physica Polonica》 |2014年第5期|1083-1086|共4頁(yè)
  • 作者單位

    Polish Acad Sci, Inst Phys, PL-02668 Warsaw, Poland;

    Polish Acad Sci, Inst Phys, PL-02668 Warsaw, Poland;

    Polish Acad Sci, Inst Phys, PL-02668 Warsaw, Poland;

    Polish Acad Sci, Inst Phys, PL-02668 Warsaw, Poland;

    Polish Acad Sci, Inst Phys, PL-02668 Warsaw, Poland;

  • 收錄信息 美國(guó)《科學(xué)引文索引》(SCI);美國(guó)《工程索引》(EI);
  • 原文格式 PDF
  • 正文語(yǔ)種 eng
  • 中圖分類
  • 關(guān)鍵詞

相似文獻(xiàn)

  • 外文文獻(xiàn)
  • 中文文獻(xiàn)
  • 專利
獲取原文

客服郵箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公網(wǎng)安備：11010802029741號(hào) ICP備案號(hào)：京ICP備15016152號(hào)-6 六維聯(lián)合信息科技 (北京) 有限公司?版權(quán)所有

  • 客服微信

  • 服務(wù)號(hào)